• / 11
  • 下載費用:30 金幣  

TFTLCD彩膜玻璃基板的檢測和修復方法及其系統.pdf

摘要
申請專利號:

CN201510769372.5

申請日:

2015.11.11

公開號:

CN105242423A

公開日:

2016.01.13

當前法律狀態:

授權

有效性:

有權

法律詳情: 授權|||實質審查的生效IPC(主分類):G02F 1/13申請日:20151111|||公開
IPC分類號: G02F1/13 主分類號: G02F1/13
申請人: 武漢華星光電技術有限公司
發明人: 徐海樂; 李啟明; 伊文超; 吳利峰
地址: 430070湖北省武漢市東湖開發區高新大道666號生物城C5棟
優先權:
專利代理機構: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙)44280 代理人: 袁江龍
PDF完整版下載: PDF下載
法律狀態
申請(專利)號:

CN201510769372.5

授權公告號:

||||||

法律狀態公告日:

2018.10.19|||2016.02.10|||2016.01.13

法律狀態類型:

授權|||實質審查的生效|||公開

摘要

本發明提供了一種TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復方法及其系統,其中該方法包括:在修復設備中輸入產品的無缺陷信息以及對應每種缺陷的修復說明和修復程序;對彩膜玻璃基板進行檢測,并將檢測到存在缺陷的彩膜玻璃基板與修復設備中的產品的無缺陷信息進行對比,以得出缺陷的位置及面積信息;根據缺陷的位置及面積信息并結合修復說明和修復程序執行修復操作。本發明提供的彩膜玻璃基板的檢測和修復方法及其系統,通過修復設備可以自行對彩膜玻璃基板進行檢測和修復,相較于傳統的通過人工進行檢測判定、研磨修復的方法來講,大大降低了人力成本,同時還可以提高產品的質量和生產效率,保障產品的質量穩定性。

權利要求書

權利要求書
1.  一種TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復方法,其特征在于,所述方法包括:
在修復設備中輸入產品的無缺陷信息以及對應每種缺陷的修復說明和修復程序;
對彩膜玻璃基板進行檢測,并將檢測到存在缺陷的彩膜玻璃基板與所述修復設備中的產品的無缺陷信息進行對比,以得出缺陷的位置及面積信息;
根據所述缺陷的位置及面積信息并結合所述修復說明和修復程序執行修復操作。

2.  根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述產品的無缺陷信息包括彩膜玻璃基板的無缺陷隔墊物點位完整坐標體系及掃描圖片。

3.  根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述對彩膜玻璃基板進行檢測的步驟中的檢測設備為自動光學檢測儀;所述修復設備為自動研磨機。

4.  根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法在所述步驟根據所述缺陷的位置及面積信息并結合所述缺陷的修復說明和修復程序執行修復操作之后還包括:
對修復完成的彩膜玻璃基板進行再次判定,如果判定為合格,則結束判定及修復過程;如果判定結果為不合格,則重復執行修復操作的步驟。

5.  根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述修復設備的修復及判定的過程在其對應的顯示器界面進行顯示,以便于監測所述修復設備是否處于正常的工作狀態。

6.  根據權利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:將所述判定結果的信息保存在所述修復設備的系統文件中,便于在保存的系統文件中定期檢查所述修復設備的判定是否有異常。

7.  一種TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復系統,其特征在于, 所述系統包括:修復設備和檢測設備;其中,所述修復設備進一步包括接收模塊和修復模塊,所述接收模塊用于接收產品的無缺陷信息以及對應每種缺陷的修復說明和修復程序;所述檢測設備用于對彩膜玻璃基板進行檢測,并將檢測到存在缺陷的彩膜玻璃基板與所述修復設備中的產品的無缺陷信息進行對比,以得出缺陷的位置及面積信息;所述修復模塊根據所述缺陷的位置及面積信息并結合所述修復說明和修復程序執行修復操作。

8.  根據權利要求7所述的系統,其特征在于,所述修復設備為自動研磨機;所述檢測設備為自動光學檢測儀。

9.  根據權利要求8所述的系統,其特征在于,所述修復設備還包括判定模塊,所述判定模塊用于對修復完成的彩膜玻璃基板進行再次判定,如果判定為合格,則結束判定及修復過程;如果判定結果為不合格,則修復模塊重復執行修復操作。

10.  根據權利要求9所述的系統,其特征在于,所述修復設備進一步包括顯示模塊和存儲模塊,所述顯示模塊用于顯示修復設備的修復及判定的過程,所述存儲模塊用于存儲所述判定模塊的判定結果信息,便于在所述存儲模塊中定期檢查所述修復設備的判定是否有異常。

說明書

說明書TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復方法及其系統
技術領域
本發明涉及TFT-LCD彩膜玻璃基板加工工藝的技術領域,具體是涉及一種TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復方法及其系統。
背景技術
目前在TFT-LCD的彩膜工廠中,會安排做完PS(PostSpacer,TFT-LCDpanel內部支撐液晶盒后的隔墊物,彩膜的最后一道Photo工序)之后有黑缺陷的基板(PR膠殘留或者存在異物)到RepairLine進行修復,而在PS工藝后的檢測和修復工序則需要人工手動操作修復設備研磨修復黑缺陷,以及根據制定的不良判定標準人工對各類微觀缺陷進行OK&NG的判定。
現有技術中對彩膜玻璃基板的檢測和修復過程如下:
1、首先AOI(AutomaticOpticInspection的全稱是自動光學檢測)將檢查到的缺陷信息(包括各缺陷的在玻璃基板的缺陷位置以及缺陷的大小)傳輸到Repair設備的軟件系統;
2、每張玻璃基板進入Repair后,Repair將讀取該基板對應的信息,反饋到對應的操作電腦界面;
3、根據反饋的信息,操作人員每人管理1~2臺Repair設備,手動對黑缺陷逐一進行研磨,同時對研磨過后的黑缺陷以及白缺陷根據制定的缺陷判定標準進行人工判定。
現有技術存在的問題:
1、人工手動操作Repair設備研磨修復黑缺陷,以及缺陷的判定需要消耗大量的人力;
2、人為的操作研磨修復及判定過程存在風險性、滯后性以及準確性的問題;
3、過多的人員進入生產線,增加帶入的灰塵等,不利于生產產品品質的保障。
發明內容
本發明實施例提供一種TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復方法及其系統,以解決現有技術中人工檢測和修復存在的人力成本大以及效率及準確性低的技術問題。
為解決上述問題,本發明實施例提供了一種TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復方法,所述方法包括:
在修復設備中輸入產品的無缺陷信息以及對應每種缺陷的修復說明和修復程序;
對彩膜玻璃基板進行檢測,并將檢測到存在缺陷的彩膜玻璃基板與所述修復設備中的產品的無缺陷信息進行對比,以得出缺陷的位置及面積信息;
根據所述缺陷的位置及面積信息并結合所述修復說明和修復程序執行修復操作。
根據本發明一優選實施例,所述產品的無缺陷信息包括彩膜玻璃基板的無缺陷隔墊物點位完整坐標體系及掃描圖片。
根據本發明一優選實施例,所述對彩膜玻璃基板進行檢測的步驟中的檢測設備為自動光學檢測儀,所述修復設備為自動研磨機。
根據本發明一優選實施例,所述方法在所述步驟根據所述缺陷的位置及面積信息并結合所述缺陷的修復說明和修復程序執行修復操作之后還包括:
對修復完成的彩膜玻璃基板進行再次判定,如果判定為合格,則結束判定及修復過程;如果判定結果為不合格,則重復執行修復操作的步驟。
根據本發明一優選實施例,所述修復設備的修復及判定的過程在其對應的顯示器界面進行顯示,以便于監測所述修復設備是否處于正常的工作狀態。
根據本發明一優選實施例,所述方法還包括:將所述判定結果的信息保存在所述修復設備的系統文件中,便于在保存的系統文件中定期檢查所述修復設備的判定是否有異常。
為解決上述技術問題,本發明還提供一種TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復系統,所述系統包括:修復設備和檢測設備;其中,所述修復設備進一步包括接收模塊和修復模塊,所述接收模塊用于接收產品的無缺陷信息以及對應每種缺陷的修復說明和修復程序;所述檢測設備用于對彩膜玻璃基板進行檢測,并將檢測到存在缺陷的彩膜玻璃基板與所述修復設備中的產品的無缺陷信息進行對比,以得出缺陷的位置及面積信息;所述修復模塊根據所述缺陷的位置及面積信息并結合所述修復說明和修復程序執行修復操作。
根據本發明一優選實施例,所述修復設備為自動研磨機;所述檢測設備為自動光學檢測儀。
根據本發明一優選實施例,所述修復設備還包括判定模塊,所述判定模塊用于對修復完成的彩膜玻璃基板進行再次判定,如果判定為合格,則結束判定及修復過程;如果判定結果為不合格,則修復模塊重復執行修復操作。
根據本發明一優選實施例,所述修復設備進一步包括顯示模塊和存儲模塊,所述顯示模塊用于顯示修復設備的修復及判定的過程,所述存儲模塊用于存儲所述判定模塊的判定結果信息,便于在所述存儲模塊中定期檢查所述修復設備的判定是否有異常。
相對于現有技術,本發明提供的彩膜玻璃基板的檢測和修復方法及其系統,通過將產品的無缺陷信息以及對應每種缺陷的修復說明和修復程序輸入進修復設備中,修復設備可以自行對彩膜玻璃基板進行檢測和修復,相較于傳統的通過人工進行檢測判定、研磨修復的方法來講,大大降低了人力成本,同時也克服了人工操作所帶來的準確性、效率以及安全性低的問題,本發明提供的彩膜玻璃基板的檢測和修復方法,可以提高產品的質量和生產效率,保障產品的質量穩定性。另外,還利用顯示裝置對整個檢測判定以及修復步驟進行全程顯示,以便更好地控制和 管理修復設備的工作流程。
附圖說明
為了更清楚地說明本發明實施例中的技術方案,下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是本發明TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復方法一優選實施例的流程示意圖;
圖2是一種彩膜玻璃基板的部分PS點位分布示意圖;
圖3a是彩膜玻璃基板黑缺陷的示意圖;
圖3b是彩膜玻璃基板白缺陷的示意圖;
圖4是彩膜玻璃基板無缺陷PS點位分布信息圖;
圖5是彩膜玻璃基板缺陷坐標位置信息圖;以及
圖6是本發明TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復系統一優選實施例的組成結構簡圖。
具體實施方式
下面結合附圖和實施例,對本發明作進一步的詳細描述。特別指出的是,以下實施例僅用于說明本發明,但不對本發明的范圍進行限定。同樣的,以下實施例僅為本發明的部分實施例而非全部實施例,本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例,都屬于本發明保護的范圍。
請參閱圖1,圖1為本發明TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復方法一優選實施例的流程示意圖,該方法包括但不限于以下步驟。
步驟S100,在修復設備中輸入產品的無缺陷信息以及對應每種缺陷的修復說明和修復程序。
本發明中所指的修復設備優選為自動研磨機,彩膜玻璃基板為TFT-LCD彩膜玻璃基板。產品的無缺陷信息則包括彩膜玻璃基板的無缺陷PS點位完整坐標體系及掃描圖片等作為修復設備執行檢測和修復時 的對比參照信息。缺陷的修復說明和修復程序通常根據缺陷的高度及大小兩數值來確定。
請參閱圖2,圖2為一種彩膜玻璃基板的部分PS(PostSpacer,TFT-LCDpanel內部支撐液晶盒后的隔墊物,彩膜的最后一道Photo工序)點位分布示意圖,該圖中包括了彩膜玻璃基板主PS點分布(1-1)和彩膜玻璃基板副PS點分布(1-2)兩種PS點分布的情況,還包括在彩膜玻璃基板橫向和縱向呈周期性的分布PS點的情況,如圖中1-3所表示的PS點周期分布所示。該圖中所表示的在彩膜玻璃基板主PS點分布(1-1)中,PS點的橫向反復周期為1/15,即每15個PS點重現一次較大或者較小的PS點(在該圖中為較小的PS點),反復周期間距為708.75um;在彩膜玻璃基板副PS點分布(1-2)中表示均勻分布的同樣大小的PS點;1-3表示PS點縱向周期分布的情況,其中,反復周期為1/6,反復周期間距為850.5um。
需要說明的是,彩膜玻璃基板常見的缺陷一般包括黑缺陷和白缺陷兩種,請參閱圖3a和圖3b,兩幅圖分別給出了彩膜玻璃基板兩種常見缺陷的示意圖。本發明涉及在彩膜玻璃基板進行PS工藝后的修復設備設備上對黑缺陷進行檢測、判斷并研磨修復的過程,而白缺陷則可直接進行判定(白缺陷的Ink修復一般在PS線之前),所以本發明不涉及對彩膜玻璃基板上的白缺陷進行處理的過程。
步驟S200,對彩膜玻璃基板進行檢測,并將檢測到存在缺陷的彩膜玻璃基板與修復設備中的產品的無缺陷信息進行對比,以得出缺陷的位置及面積信息。
在該步驟中,對彩膜玻璃基板進行檢測的檢測設備優選為自動光學檢測儀(AutomaticOpticInspection的全稱是自動光學檢測儀)。修復設備根據AOI提供的需修復的黑缺陷數據信息(包括坐標點和面積大小),確定需要修復的缺陷坐標位置,同時將缺陷坐標位置與PS點位分布信息進行比對,請一并參閱圖4和圖5,圖4是彩膜玻璃基板無缺陷PS點位分布信息圖,圖5是彩膜玻璃基板缺陷坐標位置信息圖。圖中3-1表示為PS點,3-2和3-4表示為黑缺陷,3-3表示為白缺陷。在將缺陷坐 標位置信息圖與無缺陷PS點位分布信息圖對比之后,以避免誤將PS點當黑缺陷進行研磨修復。當黑缺陷與PS太近時如圖5中的3-4所示,可根據實際情況(如PS點擋住了研磨頭的下降研磨動作時)可以將相鄰的PS點研磨掉。
步驟S300,根據缺陷的位置及面積信息并結合修復說明和修復程序執行修復操作。
修復操作具體步驟可以為:從待修復的彩膜玻璃基板的一角往橫向或縱向進行移動,對需研磨修復的缺陷進行逐一判定并修復。
優選地,該彩膜玻璃基板的檢測和修復方法在步驟根據缺陷的位置及面積信息并結合缺陷的修復說明和修復程序執行修復操作之后還包括步驟S400,對修復完成的彩膜玻璃基板進行再次判定。
如果判定為合格,則進入步驟S600,結束判定及修復過程;如果判定結果為不合格,則返回步驟S300,重復執行修復操作的步驟。
在步驟S400,對修復完成的彩膜玻璃基板進行再次判定之后,進一步包括步驟S500,將判定結果的信息保存在修復設備的系統文件中,便于在保存的系統文件中定期檢查修復設備的判定是否有異常。
優選地,本實施例中修復設備的整個修復及判定的過程都在其對應的顯示器界面進行顯示,以便于監測修復設備是否處于正常的工作狀態。顯示器可以為外設的電腦,或者修復設備自身帶有的顯示裝置,在本領域技術人員的理解范圍內,此處不再贅述。
另外,本發明實施例還提供一種TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復系統,請參閱圖6,圖6是本發明TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復系統一優選實施例的組成結構簡圖。該系統包括但不限于以下設備:修復設備610和檢測設備620。
具體而言,修復設備610進一步包括接收模塊611、修復模塊612、判定模塊613、顯示模塊614以及存儲模塊615。
接收模塊611用于接收產品的無缺陷信息以及對應每種缺陷的修復說明和修復程序。檢測設備620用于對彩膜玻璃基板進行檢測,并將檢測到存在缺陷的彩膜玻璃基板與修復設備610中的產品的無缺陷信息進 行對比,以得出缺陷的位置及面積信息;修復模塊612根據缺陷的位置及面積信息并結合修復說明和修復程序執行修復操作;判定模塊613用于對修復完成的彩膜玻璃基板進行再次判定,如果判定為合格,則結束判定及修復過程;如果判定結果為不合格,則修復模塊612重復執行修復操作;顯示模塊614用于顯示修復設備的修復及判定的過程;存儲模塊615用于存儲判定模塊613的判定結果信息,便于在存儲模塊615中定期檢查修復設備的判定是否有異常。
其中,修復設備610優選為自動研磨機;檢測設備620優選為自動光學檢測儀。而關于修復設備610中各功能模塊以及檢測設備620具體的工作過程,請參閱上述TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復方法實施例中的相關描述,此處亦不再贅述。
相對于現有技術,本發明提供的彩膜玻璃基板的檢測和修復方法及其系統,通過將產品的無缺陷信息以及對應每種缺陷的修復說明和修復程序輸入進修復設備中,修復設備可以自行對彩膜玻璃基板進行檢測和修復,相較于傳統的通過人工進行檢測判定、研磨修復的方法來講,大大降低了人力成本,同時也克服了人工操作所帶來的準確性、效率以及安全性低的問題,本發明提供的彩膜玻璃基板的檢測和修復方法,可以提高產品的質量和生產效率,保障產品的質量穩定性。另外,還利用顯示裝置對整個檢測判定以及修復步驟進行全程顯示,以便更好地控制和管理修復設備的工作流程。
以上所述僅為本發明的一種實施例,并非因此限制本發明的保護范圍,凡是利用本發明說明書及附圖內容所作的等效裝置或等效流程變換,或直接或間接運用在其他相關的技術領域,均同理包括在本發明的專利保護范圍內。

關 鍵 詞:
TFTLCD 玻璃 檢測 修復 方法 及其 系統
  專利查詢網所有資源均是用戶自行上傳分享,僅供網友學習交流,未經上傳用戶書面授權,請勿作他用。
關于本文
本文標題:TFTLCD彩膜玻璃基板的檢測和修復方法及其系統.pdf
鏈接地址:http://www.rgyfuv.icu/p-6409505.html
關于我們 - 網站聲明 - 網站地圖 - 資源地圖 - 友情鏈接 - 網站客服客服 - 聯系我們

[email protected] 2017-2018 zhuanlichaxun.net網站版權所有
經營許可證編號:粵ICP備17046363號-1 
 


收起
展開
山东11选5中奖结果走势图